Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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Nahinfrarot-Wellenfrontsensor mit ultrahoher Auflösung – FIS4-NIR Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometersensor

Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten, wodurch eine hochpräzise Wellenfrontmessung im 900-nm- bis 1200-nm-Band erreicht wird, die für die Aberrationsmessung des optischen Systems, die Kalibrierung des optischen Systems, die Messung der internen Gitterverteilung des Materials, Metaoberfläche und Superlinse verwendet werden kannWellenfrontmessung, usw.


Der Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometersensor FIS4-NIR kombiniert die patentierte zufällig codierte Vierwellen-Beugungstechnologie mit einer Infrarotkamera und interferiert an der Position der hinteren Bildebene. Es stellt geringe Anforderungen an die Kohärenz der Lichtquelle und erfordert keine Phasenverschiebung. Gewöhnliche Bildgebungssysteme können interferometrische Messungen durchführen. Es verfügt über eine extrem hohe Vibrationsfestigkeit und eine extrem hohe Stabilität und kann Präzisionsmessungen im nm-Bereich ohne Vibrationsisolierung erreichen.


Hauptmerkmale

◆ Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten

◆ Einpfad-Lichtselbstinterferenz, kein Referenzlicht erforderlich

◆ Breites Spektrum im 900-nm-1200-nm-Band

◆ 2 nm RMS hohe Phasenauflösung

◆ Großer Dynamikbereich bis zu 270 μm

◆ Extrem hohe Vibrationsfestigkeit, keine optische Vibrationsisolierung erforderlich

◆ Einfacher und schneller optischer Pfadaufbau wie bei der Bildgebung

◆ Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-Konvergenzstrahlen


Produktanwendungen

Messung der Aberration des optischen Systems, Kalibrierung des optischen Systems, Messung der internen Gitterverteilung des Materials, Metaoberfläche, Messung der Wellenfront der Superlinse.

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