Fis4nahe Infrarotwellenfrontsensor 900-1200 nm
DerBojiong Fis4NIR Wavefront Sensor 900-1200 nm ist speziell für die Präzisionsmessung im 900–1700 nm Wellenlängenband ausgelegt. Es verwendet eine tief optimierte Vierwellen-Lateral-Scher-Interferometrie-Technologie und ein infrarotverstärktes Nachweismodul, wodurch eine ultrahohe räumliche Auflösung von 512 × 512 und eine Phasenempfindlichkeit von 2 nm RMs innerhalb des Nahinfrarot-Spektralbereichs erreicht wird. Der Sensor verfügt über einen großen Dynamikbereich von ≥ 260 μm, wodurch eine genaue Analyse starker Aberrationen und steiler Wellenfronten ermöglicht wird, während die Laser -Speckle -Interferenz effektiv unterdrückt wird. Ausgestattet mit einer Anti-reflektierenden Beschichtung mit Vollband und einer Anti-Vibrationsstruktur der gemeinsamen Path können stabile und hochholbare Messungen ohne Vibrationsisolierung in Szenarien wie Laserverarbeitung, optischem Systemintegrationstests und Halbleitermetrologie durchführen, die zuverlässige Datenunterstützung für das optische Design und Herstellen von Semikonduktoren bieten.
BojiongFis4 Nir Wellenfrontsensor 900-1200 nm Einführung
DerBojiong Fis4nahe Infrarotwellenfrontsensor 900-1200 nm ist die neue Generation von hochpräzisen optischen Inspektionsgeräten durch unser Unternehmen mit hervorragenden Vibrationsfestigkeit und Echtzeit-Wellenfront-Messfunktionen. DerFis4nahe Infrarotwellenfrontsensor 900-1200 nm zum ISO 9001 -Qualitätsmanagementsystem und ist vom China Institute of Metrology (NIM) zertifiziert. Es kommt mit einer einjährigen Garantie. DerFis4NIR -Wellenfrontsensor ist Plug-and-Play, einfach zu bedienen und wartungsarm und verbessert die Inspektionseffizienz und Zuverlässigkeit optischer Systeme effektiv.
BojiongFis4NIR Wavefront Sensor 900-1200 nm Parameter (Spezifikation)
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Lichtquelle |
Kontinuierlicher Laser, gepulster Laser -LED; Halogenlampe und andere breiteSpektrum Lichtquellen |
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Wellenlängenbereich |
900 ~ 1200nm |
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Zielgröße |
13.3mm ×13.3mm |
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Räumliche Auflösung |
26μm |
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Phasenausgangsauflösung |
512×512 |
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Absolute Genauigkeit |
20NMRMs |
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Phasenauflösung |
≤ 2nmrms |
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Dynamikbereich |
≥260μm |
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Probenrate |
40fps |
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Echtzeitverarbeitungsgeschwindigkeit |
5Hz(Bei voller Lösung) |
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Schnittstellentyp |
USB3.0 |
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Größe |
70mm ×46.5mm ×68.5mm |
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Gewicht |
Um240g |
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Kühlmethode |
Keiner |
BojiongFis4NIR Wavefront Sensor 900-1200 nm Funktion und Anwendung
Seit 2006 hat das Team von Professor Yang Yongying an der Zhejiang University den Weitspektrum FIS4 erfolgreich eingeführt Serienwellenfrontsensor Basierend auf Common-Path-Interferometrie-Design und Echtzeit-Wellenfront-Rekonstruktionalgorithmen nach 17 Jahren engagierter Forschung und Entwicklung. Dieses Produkt hat die folgenden herausragenden Funktionen:
· Starke Anti-Vibrations- und Vibrationsisolationsfrei: In komplexer Umgebungen kann eine Wellenfront-Erkennung in Echtzeit erreicht werden, ohne dass eine Vibrationsisolationsplattform erforderlich ist.
· Hochempfindlichkeitsmessung: Wellenfrontempfindlichkeit bis zu 2nm RMS, wodurch genaue Erfassung winziger Phasenänderungen erfasst werden;
· Plug-and-Play-Einheitspfad-Platten: Originales einzelnes optisches Pfaddesign ohne Referenzleuchte, der sofortige Verwendung bei Einschalten und bequemer Betrieb ermöglicht;
· Kompakt, leicht und tragbar: Nur die Größe einer Faust, erleichtert die Integration und die Gebrauchsgebrauch.
DerFis4nahe Infrarotwellenfrontsensor 900-1200 nmist für die High-End-optische Metrologie in industriellen Inspektion, wissenschaftlichen Forschung und Verteidigungsanwendungen ausgelegt. Mit einer hohen Auflösung von 512 × 512 (262.144) Phasenpunkten ermöglichen sie hochpräzise Wellenfrontmessungen im Bereich von 900–1200 nm und unterstützen die Echtzeit-3D-Darstellung von Ergebnissen bei der vollen Auflösung bei 10 Bildern pro Sekunde. Der Fis4NIR -Wellenfrontsensor kann zur Aberration Messung von optischen Systemen, Kalibrierung des optischen Systems, Messung der internen Gitterverteilung von Materialien, Wellenfrontmessung von Metasurfaken und Metalsens usw. verwendet werden.
Bojiong Fis4NIR Wavefront Sensor 900-1200 nm Anwendung
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Beispiel für die Aberration Messung in optischen Systemen
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Beispiel für die kalibrierende Messung des optischen Systems |
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Beispiel für die Messung der Superlinse -Wellenfront |
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Bojiong Fis4NIR Wavefront Sensor 900-1200 nm Details
Der Fis4nahe Infrarotwellenfrontsensor 900-1200 nmVerwendet die patentierte zufällige Vierwellen-Beugungstechnologie und erreicht die Selbstinterferenz der gemessenen Wellenfront mit einem einzelnen Lichtpfad. Störungen treten in der hinteren Bildebene auf. Diese Technologie reduziert die Anforderung der Lichtquellenkohärenz erheblich, beseitigt die Notwendigkeit von Phasenschiebern und ermöglicht die Messung von Interferometrie-Messungen mit hoher Präzision mit Standard-Bildgebungssystemen. Das Produkt bietet eine hervorragende Schwingungswiderstand und ultrahoch-hohe Stabilität, wobei die Wellenfrontmessung auf Nanometer-Ebene ohne Isolationsplattform erforderlich ist. Im Vergleich zu herkömmlichen Hartmann-Sensoren, die auf Microlens-Arrays basieren, exzentiert der FIS4-Wellenfront-Sensor von FIS4 900-1200 nm in mehreren wichtigen Leistungsindikatoren: höhere Phasenpunktauflösung, Anpassungsfähigkeit des Betriebsbandes und einen größeren Dynamikbereich. Es bietet auch eine überlegene Kosten-Performance und bietet eine zuverlässige Lösung für eine breite Palette von präzise optischen Inspektionsszenarien.
Abb.1.Phase Bildgebungsprinzip basierend auf einer lateralen Scher-Interferenz mit vier Wellen unter Verwendung von zufällig codiertem Hybrid-Gitter (REHG)
Abb.2.Te-Square-Wellenfront-Rekonstruktion aus Vierwellen-Lateral-Scher-Interferogramm
DerFis4Wellenfrontsensor ist zu einem leistungsstarken und weit verbreiteten Instrument in wissenschaftlicher Forschung und Industrie geworden Zunächst wurde dieser Sensor hauptsächlich zur Erkennungsaufgaben in herkömmlichen optischen Workshops verwendet, einschließlich der Qualitätsbewertung der optischen Komponenten, der Laserstrahlanalyse und der adaptiven optischen Systemkorrektur. Anschließend haben sich die Anwendungsszenarien allmählich auf mehrere hochmoderne Felder wie biomedizinische Bildgebung, Nanopartikelpositionierung, Metasoberflächencharakterisierung und Messung von Temperaturgradienten erweitert.
Das kompakte mechanische Design derFis4Wellenfrontsensor Ermöglicht es leicht, in verschiedene vorhandene Mikroskopieplattformen integriert zu werden, während seine hervorragende Robustheit sicherstellt, dass eine hohe interferometrische Messgenauigkeit auch in starken Schwingungsumgebungen aufrechterhalten werden kann. Mit dem Gerät unterstützt das Gerät die Einzelausgleichsmessung, die effektiv hohe dynamische Prozesse erfassen und für die Echtzeitbeobachtungsbedürfnisse geeignet ist. In der biomedizinischen Forschung hat FIS4 erfolgreich markierungsfreie, hochauflösende und Echtzeit-Bildgebung verschiedener lebender Zellen wie COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK-Zellen und Neuronen erreicht, die ein wichtiges Instrument für die Zelldynamikforschung bereitstellen.
Zusätzlich dieFis4Wellenfrontsensor wird auch in der Phasen-Retardations-Bildgebung häufig verwendet und auf Anisotrope biologische Gewebe und subzelluläre Strukturen wie Kollagenfasern und Zytoskelette durch hohe kontrastreiche Bilder enthüllt. Diese Technologie wird weiter auf Phasenbildgebung in Röntgen-, Mid-Wave-Infrarot- (MWIR )- und Long-Wave-Infrarot-Banden (LWIR) ausgeweitet, die in interdisziplinären Anwendungen ihr breites Potenzial zeigen.
Adresse
Nr. 578 Yingkou Road, Bezirk Yangpu, Shanghai, China
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