Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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FIS4 NIR-C-Wellenfrontsensor
  • FIS4 NIR-C-WellenfrontsensorFIS4 NIR-C-Wellenfrontsensor

FIS4 NIR-C-Wellenfrontsensor

Bojiong Optoelectronics, das durch ein unerschütterliches Engagement für Innovationen in der FIS4-NIR-C-Wellenfront-Sensor-Technologie angetrieben wurde, hat sich als Pionierunternehmen innerhalb der Branche fest etabliert. Unsere modernsten Sensoren sind akribisch konstruiert, um eine beispiellose Präzision bei der optischen Leistungsmessung zu erzielen und eine breite Palette von Anwendungen in verschiedenen Sektoren zu befriedigen, einschließlich optischer Herstellung, Luft- und Raumfahrt, biomedizinischer Forschung und Energieexploration.

Unsere FIS4 NIR-C-Wellenfrontsensoren sind fachmännisch so konzipiert, dass sie den anspruchsvollen Standards der optischen Analyse der hochpräzisen Analyse rigoros erfüllen und unsere Kunden mit einem zuverlässigen Instrument zur Verfügung stellen, um das übergeordnete Kaliber ihrer Produkte und Betriebsmethoden zu gewährleisten.  Durch die nahtlose Integration dieser Sensoren in ihre operativen Rahmenbedingungen können unsere Kunden zuversichtlich einen erheblichen Fortschritt bei der Exzellenz und der Herstellungseffizienz von Produkten erwarten.


 

Die herausragende hohe Auflösung und die umfangreiche Wellenlängenabdeckung des Bojiong FIS4 NIR-C-Wellenfrontsensor-Sensors positionieren sie als beispielloses Instrument sowohl für die wissenschaftliche Untersuchung als auch für die industrielle Implementierung, insbesondere in Szenarien, die eine sorgfältige Messung und strenge Analyse erfordern.  Dieser ausgefeilte Sensor zeichnet sich aus, um mit hoher Präzisionswellenfrontmessungen über den Wellenlängenbereich von 900 nm bis 1200 nm zu liegen, der eine bemerkenswerte Auflösung von 512 x 512 Pixel umfasst-auf insgesamt 262.144 unterschiedliche Phasenpunkte.  Das Design integriert sorgfältig einen inhärenten Schwingungswiderstand und gewährleistet eine robuste Stabilität in praktischen Umgebungen, wodurch Messungen von hoher Fidelität erleichtert werden, ohne umständliche Umweltkontrollsysteme zu erfordern.  Diese intrinsische Widerstandsfähigkeit optimiert die operativen Arbeitsabläufe deutlich und erhöht den Gesamtmessdurchsatz erheblich.

 

Spezifikation:

 

Lichtquellentyp

Continuous Laser , Pulslaser , LED, Halogenlampe und andere Breitbandlichtquellen

Wellenlängenbereich

900 nm ~ 1200 nm 

Zielgröße

13,3 mm × 13,3 mm

Räumliche Auflösung

26 m m

Phasenausgangsauflösung

512 × 512

Absolute Genauigkeit

15nmrms

Phasenauflösung

≤ 2nmrms

Dynamikbereich

≥ 260 μm

Stichprobenrate

30fps

Echtzeit-Verarbeitungsgeschwindigkeit

5Hz (bei voller Auflösung)

Schnittstellentyp

HACKEN

Dimension

70 mm × 71 mm × 68,5 mm

Gewicht

etwa 380g

Kältemethode

Halbleiterkühlung

 

 

Besonderheit

 

 

 

◆ 100% im Inland entwickelt

◆ Selbstinterferenz mit einem Pfadenlicht, kein Referenzlicht erforderlich

◆ Großer Dynamikbereich von bis zu 260 μm

◆ breites Spektrum 900 nm ~ 1200 nm Band

◆ 2nm RMS hohe Phasenauflösung

◆ extrem starker Schwingungswiderstand, keine optische Vibrationsisolation erforderlich

◆ Mit Laser -Interferenz -Randunterdrückungsdesign

◆ Stützen Sie kollimierte Strahlen und große na konvergierende Balken

◆ Verwenden der Halbleiterkühlung

 

 

 Anwendung

 

Dieser BOJIONG FIS4 NIR-C-Wellenfrontsensor, der in der optischen Systemaberrationsmessung, der optischen Systemkalibrierung, der Messung der internen Gitterverteilung, der Messung der Hyperlenswellenfront verwendet wird

 

Beispiel für die Aberration Messung des optischen Systems

Probenmessung der Gitterverteilung in einem Material

Beispiele für optische Systemkalibrierungsmessungen

Beispiel für die Wellenfrontmessung mit Metasurface

 

Beispiel für eine Hyperlens -Wellenfrontmessung

 

 

 

 

 

 

Bojiong Details

 

Bojiong FIS4 NIR-C (Semiconductor Cooling) Wavefront-Sensor wurde von einem Team von Professoren der Zhejiang University und der Nanyang Technological University in Singapur entwickelt. Es hat eine ultrahohe Auflösung von 512 × 512 (262144) Phasenpunkten und kann eine hohe Präzisionswellenfrontmessung im 900 nm1200 nm Band erreichen. Es kann zur optischen Systemaberrationsmessung, zur optischen Systemkalibrierung, zur Messung der internen Gitterverteilung, der Metasurfläche, der Messung von Superlens -Wellenfront usw. verwendet werden.

FIS4 NIR-C kombiniert die patentierte zufällige Coded-Vier-Wellen-Beugungstechnologie mit einer Infrarotkamera und stört die Position der hinteren Bildebene. Es hat niedrige Anforderungen an die Kohärenz von Lichtquellen und erfordert keine Phasenverschiebung. Gewöhnliche Bildgebungssysteme können eine interferometrische Messung erreichen. Es hat ultrahohe Schwingungswiderstand und ultrahohe Stabilität und kann ohne Vibrationsisolierung eine Präzisionsmessung auf NM-Ebene erreichen.

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