Das horizontale dynamische Vierwellen-Interferometer verfügt über ein optisches Common-Path-Interferometer mit variabler Scherrate und vier Wellenfront-Transversalscheren, das die Fähigkeiten herkömmlicher visueller Laser-Planarinterferometer vollständig digitalisiert und verbessert. Dieses System ist kompakt gestaltet, bietet stabile Interferenzstreifen und nutzt selbstinterferierende Wellenfronttechnologie zur präzisen Messung von Verformung und Wellenfrontübertragung in parallelen Ebenen, wodurch es sich hervorragend für die Qualitätskontrolle in Fertigungsumgebungen eignet. Darüber hinaus bieten unsere Geräte eine außergewöhnliche Kosteneffizienz und stellen eine hochwertige Lösung für Benutzer dar.
Produktname |
Horizontales dynamisches Vierwellen-Interferometer |
Erkennbare Probenöffnung (mm) |
Bis 100 gibt es zwei austauschbare Blendengrößen von 40 und 100 |
CCD-Pixel |
2048*2048 |
Wellenlänge (nm) |
633±10 |
Dynamikbereich (um) |
100 |
Präzisions-PV-Wert (λ) |
Besser als 1/10 Wellenlänge |
Wiederholbarkeit der RMS-Messung (λ) |
1/1000 Wellenlänge |
Empfindlichkeit (nm) |
2 |
Bildfrequenz der Echtzeitanzeige (Hz) |
15 |
Das System ist mit Zufallsgeräten ausgestattet |
Bildverarbeitungscomputer |
Verarbeitungssoftware |
Die Software „Industrial Window Component Distortion Detection Instrument“ kann Echtzeit-Ausgangswellenfrontwerte wie PV-Wert, RMS-Wert und POWER-Wert anzeigen |
Gesamtabmessungen (einschließlich Probentisch) (mm) |
600 (Länge) x 300 (Breite) x 180 (Höhe) |
Gesamtgewicht (KG) |
30 |
◆Gemeinsame Pfad-Selbstinterferenz – keine Referenzebene erforderlich
◆Gute Echtzeitleistung, ermöglicht die dynamische Erkennung von Dutzenden von Bildern
◆Gute Vibrationsfestigkeit, keine Isolationsplattformen erforderlich, kann für Tests in normalen Werkstattumgebungen eingesetzt werden
◆Gute Kosteneffizienz, einfache Einstellung und kompakte Struktur
Das BOJIONG Horizontal Four Wave Dynamic Interferometer wurde mit den Ergebnissen des ZYGO GPI-Interferometers verglichen, das derzeit international häufig verwendet wird. Die Durchschnittswerte von PV, RMS und POWER für dieselbe Komponente wurden nach getrennter Messung in zwei Geräten berechnet und die Ergebnisse waren konsistent. Die Ausrüstung wurde auf dem Werkstattgelände angebracht.
◆Strahlqualitätserkennung und Erkennung transienter Wellenfronten
◆Optische Flachbildschirmkomponenten, Saphirsubstrate, Präzisionsmetalloberflächen und andere Oberflächenformen sowie Transmissionswellenfronterkennung
◆Erkennung der Verformung von Flachglas in Smartphones und hochauflösenden Überwachungsfenstern
◆Bioquantitative Phasenmikroskopie-Bildgebung
◆Kann zur hochpräzisen Erkennung der Bildqualität optischer Systeme verwendet werden
◆Erkennung adaptiver optischer Wellenfronterkennung und anderer Aspekte
Ergebnisse der Transmissionswellenfront-Detektion von Saphirkomponenten |
Oberflächenformerkennung optischer Komponenten |
BOJIONG hat das horizontale dynamische Vierwellen-Interferometer entwickelt, das das Selbstinterferenzprinzip des FIS4-Vierwellen-Interferometersensors nutzt. Dieses Gerät ist in der Lage, die Oberflächenform von planaren optischen Elementen innerhalb einer 100-mm-Apertur in Echtzeit zu erkennen. Der Strahl, der die Oberflächenforminformationen des gemessenen Elements trägt, wird durch ein speziell codiertes Gitter gebeugt, das die Wellenfront horizontal in vier Teile teilt und so ein zweidimensionales Interferenzmuster mit vier Wellenfronten in gemeinsamer Pfadscherung erzeugt. Durch die Demodulation dieses zweidimensionalen Interferenzmusters können die präzisen Oberflächenkonturinformationen des Elements erfasst werden. Professionelles Softwaremodul
◆Ausgestattet mit der Software „Horizontal Four-wave Dynamic Interferometer“ ist das System in der Lage, Echtzeit-3D-Bilder der gemessenen optischen Elementebene anzuzeigen und auszugeben sowie wichtige Oberflächenmessparameter wie Peak-to-Valley ( PV), Root Mean Square (RMS) und Power Spectral Density (POWER)-Werte.
◆Darüber hinaus bietet die Software die Möglichkeit, Rohmessdaten zu exportieren, was eine präzise quantitative Analyseunterstützung in einem breiten Spektrum von Forschungsbereichen bietet und es Benutzern ermöglicht, nachfolgende Datenanalysen und eingehende Forschung bequemer durchzuführen.
Adresse
Nr. 578 Yingkou Road, Bezirk Yangpu, Shanghai, China
Tel