FIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm

FIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm 

Der Bojiong FIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Nutzt innovatives Vier-WAVE Laterale Scher -Interferometrie -Technologie. Mit einer ultrahohen Dichte von 512 × 512 (über 260.000) Phasendetektionspunkten erreicht es eine Wellenfrontauflösung auf Nanometerebene. Der Wellenfrontsensor Beibehält 2nm RMS -Messgenauigkeit in Standardumgebungen ohne Vibrationsisolierung und gibt eine vollständige Reihe von optischen Spezifikationen, einschließlich Zernike -Koeffizienten, PSF und MTF, bei 5 Bildern pro Sekunde aus. Durch die Nutzung eines im Inland hergestellten zufälligen Algorithmus für zufällige Gitter und adaptiver Lösung arbeitet es stabil in komplexen industriellen Umgebungen, einschließlich solcher, die durch Vibrationen und Temperaturschwankungen gekennzeichnet sind. Es bietet eine sehr zuverlässige Wellenfront-Messlösung für die ultra-präzienhafte Herstellung, die Baugruppe des optoelektronischen Systems und die modernste wissenschaftliche Forschung.

BojiongFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Einführung

DerFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm ist das Flaggschiff der nächsten Generation für optische Messungsinstrumente unseres Unternehmens. Es verfügt über die Zertifizierung von ISO 9001 -Qualitätsmanagementsystemen und ist an das China National Institute of Metrology (NIM) zurückzuführen. Es kommt mit einemeins-jahr Garantie. Dieser Sensor verwendet ein proprietäres Common-Path-Interferometer-optisches System und eine Echtzeit-Wellenfront-Lösungsarchitektur, wodurch die Notwendigkeit von Phasenverschiebung oder Referenzspiegeln beseitigt wird. Es kann auch in Hochvibrationsumgebungen stabile 512 × 512 Ultrahoch-Auflösungsmessungen erzielen.

Mit seiner 2 nm RMS Ultra-hohen Präzision, ≥ 160 μm breitem Dynamikbereich und 5 Frames/Second Vollparameter-Echtzeit-Ausgangsfunktion, dieFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm  Kann vorübergehende Wellenfrontdetails und Aberrationen hoher Ordnung genau erfassen. Es gilt weithin für Felder wie Laserstrahldiagnose, Oberflächeninspektion, adaptive Optik und ultra-Präzisionsherstellung. Es erreicht wirklich "Startmessung ohne Vibrationsisolation", wodurch die Effizienz und Zuverlässigkeit der optischen Inspektion mit hoher Präzision erheblich verbessert wird.

BojiongFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Parameter (Spezifikation)

BojiongFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Funktion und Anwendung

Seit 2006，Das Team von Professor Yang Yongying an der Zhejiang University hat die Wide-Spectrum FIS4-Serie gestartetWellenfrontsensoren Nach 17 Jahren Forschung und Entwicklung unter Verwendung von Common-Pfad-Design- und Echtzeit-Wellenfront-Rekonstruktionalgorithmen.

· Ein einzelnes optisches Pfaddesign beseitigt das Bedürfnis nach Referenzleuchten und ermöglicht den Plug-and-Play-Betrieb.

· Echtzeiterkennung von Wellenfrontdaten sind möglich, ohne dass eine Vibration erforderlich ist

Isolationsplattform.

· Empfindlichkeit kann 2nm RMS erreichen.

· Auflösung erreicht 512 × 512.

· Größe ist nur die Größe einer Faust.

 DasFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm ist speziell entwickelt, um die wissenschaftliche Forschung und hochpräzise industrielle Szenarien zu unterstützen. Seine ultrahohe Auflösung kann mehr Wellenfrontdetails des zu testenden Objekts erkennen. Es verfügt über eine ultrahohe Auflösung von 512 × 512 (262.144) Phasenpunkten, eine breite spektrale Reaktion von 400-900 nm und ein 5-Frame-3D-Display mit voller Auflösung. Es bietet ein ideales Wellenfront-Erfassungsmesswerkzeug für den Laserstrahlwellenfront-Nachweis, die adaptive Optik, die Ebene der Ebene der Oberfläche, die Kalibrierung des optischen Systems, die optische Fensterkennung, die optische kugelförmige Oberflächenmessung, die Oberflächenrauheitsdetektion und die Oberflächenmikroprofil.

BojiongFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Anwendung

BojiongFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Details

DerFIS4 Ultra-High-Auflösungswellenfrontsensor 400-900 nm Verwendet die patentierte, unabhängig entwickelte, zufällig codierte Vierwellen-Beugungstechnologie und erreicht die Selbstinterferenz der gemessenen Wellenfront mit einer Einzel-Pfaden-Lichtquelle. Dieser Interferenzvorgang erfolgt in der hinteren Bildebene. Diese Technologie reduziert die Anforderungen an die Lichtquellenkohärenz erheblich, wodurch die Notwendigkeit von Phasenschiebern beseitigt und mit herkömmlichen Bildgebungssystemen hochpräzise interferometrische Messungen ermöglicht werden. Das Produkt zeigt eine außergewöhnliche Resistenz gegen Umweltschwingungen und ultrahohe Betriebsstabilität und erreicht die Messgenauigkeit auf Nanometer-Ebene, ohne dass eine Vibrationsisolationsbasis erforderlich ist. Im Vergleich zu herkömmlichen Microlens-Array-Hartmann-Sensoren bietet der FIS4 signifikante Vorteile: Erfassung von Phasenpunkten mit höherer Dichte, breiterer spektraler Reaktionsbereich und einen größeren dynamischen Messbereich, das gleichzeitig überlegene Gesamtkostenleistung bietet. Mit seiner innovativen technischen Architektur der FIS4Wellenfrontsensor definiert den Standard für die optische Messung mit hoher Präzision neu und bietet eine zuverlässigere und kostengünstigere fortschrittliche Lösung für wissenschaftliche Forschung und Industrieprüfung.

Abb.1.Phase Bildgebungsprinzip basierend auf einer lateralen Scher-Interferenz mit vier Wellen unter Verwendung von zufällig codiertem Hybrid-Gitter (REHG)

Abb.2.Te-Square-Wellenfront-Rekonstruktion aus Vierwellen-Lateral-Scher-Interferogramm

DerFIS4 Wavefront SinnrMit seinem kompakten, integrierten Design, außergewöhnlicher Umwelt robustheit, hoher zeitlicher Auflösung und robuster Systemkompatibilität ist ein bahnbrechendes Instrument in der optischen Metrologie geworden, das ein breites Potenzial für die Anwendung in wissenschaftlicher Forschung und industrielle Innovation zeigt. Initially focused on high-precision inspection scenarios in traditional optical workshops, including optical component surface testing, laser beam quality assessment, and adaptive optics system correction, its applications have now significantly expanded to include cutting-edge fields such as biomedical imaging, nanoparticle tracking, metasurface characterization, temperature field measurement, and even cross-band phase imaging.

DerFIS4 -Wellenfrontsensor'S Das stark kompakte Design ermöglicht eine nahtlose Integration in vorhandene mikroskope optische Pfade oder komplexe optische Systeme. Die einzigartige Architektur basiert auf dem Prinzip der Common-Path-Interferometrie, die außergewöhnliche Robustheit aufrechterhalten, wobei die Phasenempfindlichkeit auf Nanometerebene selbst in Hochvibrationsumgebungen aufrechterhalten wird, um einen stabilen Betrieb sicherzustellen, ohne dass zusätzliche Schwingungs-Isolationsgeräte erforderlich sind. Darüber hinaus ermöglicht die Einzelausgleichswellenfront-Rekonstruktionsfähigkeit des Sensors eine präzise Erfassung und quantitative Analyse von dynamischen Hochgeschwindigkeitsprozessen wie Flüssigkeitsbewegung, Partikeltransienten und Laserübertragung.

In der biomedizinischen Forschung die FIS4 -WellenfrontsensorDas System wurde häufig zur markierungsfreien, langfristigen, dreidimensionalen quantitativen Phasenbildgebung einer Vielzahl lebender Zellen wie COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK und primärer Neuronen verwendet, wodurch die phototoxische Interferenz signifikant reduziert und eine neue Perspektive für die Untersuchung der zellulären Dynamik bereitgestellt wird. Diese Technologie verfügt auch über eine hervorragende Phasenverzögerungsbildgebung und ermöglicht eine hohe Visualisierung von doppelbrechenden subzellulären Strukturen wie Kollagenfasern und das Zytoskelett, was die Untersuchung der Gewebemechanik und Pathologie erheblich vorantreibt.

Außerdem dieFIS4 -Wellenfrontempfindung Die Architektur zeigt ein signifikantes Potenzial für Kreuzband- und interdisziplinäre Expansion. Die technischen Konzepte wurden erfolgreich auf neuartige Phasenbildgebungssysteme in den Bändern mit Röntgen-, Mittelwellen-Infrarot (MWIR) und Long-Wave Infrarot (LWIR) ausgedehnt und bieten neue Messlösungen für Materialwissenschaft, thermisches Management und nationale Sicherheit. In den letzten Jahren wurde der Sensor in aufstrebenden Szenarien wie Manipulationsbewertung und charakterisierung von zweidimensionalen Materialien und der optischen Eigenschaftsfigur von zweidimensionalen Materialien häufig angewendet, wodurch der kritische Wert und seine breite Anwendbarkeit als grundlegendes Messinstrument zur Förderung interdiskiplinärer Innovationen in der Optik- und Materialwissenschaft nachgewiesen werden.

DerFIS4 -Wellenfrontsensor Verschiebt sich weiterhin die Grenzen der Anwendung, löst Wellenfrontmessungen in mehreren Szenarien mit einem einzigen System und wird zu einem der Kernwerkzeuge, die High-End-Fertigung, Lebenswissenschaftsforschung und modernste Materialentwicklung unterstützen.