Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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Hochauflösender Wellenfrontsensor – Einführung in den hochauflösenden Vierwellen-Interferometersensor FIS4-HR

Speziell für praktische interferometrische Messungen in der Industrie, der wissenschaftlichen Forschung und der Landesverteidigung entwickelt. Hohe Auflösung von 300 x 300 (90.000) Phasenpunkten, 400–1100 nm breiter Spektralbereich, 10 Bilder vollaufgelöster Echtzeit-3D-Ergebnisanzeige, ein ideales Wellenfront-Erkennungsmesswerkzeug für Laserstrahl-Wellenfronterkennung, adaptive Optik, optisches System Kalibrierung, optische Fenstererkennung, optische ebene Oberflächenform, sphärische Oberflächenformmessung, Oberflächenrauheit, Oberflächenmikrokonturerkennung usw.


FIS4 HR hochauflösender Vierwellen-Interferometersensornutzt die patentierte, zufallscodierte Vierwellen-Beugungstechnologie, um eine einkanalig gemessene Wellenfront-Selbstinterferenz zu erreichen, und Interferenzen treten an der Position der hinteren Bildebene auf. Es stellt geringe Anforderungen an die Kohärenz der Lichtquelle, erfordert keine Phasenverschiebung und kann mit einem gewöhnlichen Bildgebungssystem interferometrische Messungen durchführen. Es verfügt über eine extrem hohe Vibrationsfestigkeit und eine extrem hohe Stabilität und kann Präzisionsmessungen im nm-Bereich ohne Vibrationsisolierung erreichen. Im Vergleich zum Mikrolinsen-Array-Hartmann-Sensor verfügt er über mehr hochauflösende Phasenpunkte, einen größeren adaptiven Bandbereich, einen größeren Dynamikbereich und ein besseres Preis-Leistungs-Verhältnis.

Hauptmerkmale

◆ Hohe Auflösung von 300×300 (90.000) Phasenpunkten

◆ Einpfad-Lichtselbstinterferenz, kein Referenzspiegel erforderlich

◆ Breites Spektrum im 400-nm-1100-nm-Band

◆ 2 nm RMS hohe Phasenauflösung

◆ Extrem hohe Vibrationsfestigkeit, keine optische Vibrationsisolierung erforderlich

◆ Einfacher und schneller Interferenzlichtwegaufbau

◆ Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-Konvergenzstrahlen


Produktanwendungen

Laserstrahl-Wellenfronterkennung, adaptive Optik, ebene Oberflächenmessung, optische Systemkalibrierung, optische Fenstererkennung, optische Ebene, sphärische Oberflächenmessung, Oberflächenrauheitserkennung.


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