Entwickelt zur Unterstützung der wissenschaftlichen Forschung undhochpräzise Industrieszenarien, höhere Auflösung kann detailliertere Informationen bei der Wellenfronterkennung liefern, ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten, 400–1100 nm breites Spektrumsverhalten, 10 Bilder vollauflösende Echtzeit-3D-Ergebnisanzeige, was eine ideale Wellenfronterkennung ermöglicht Messwerkzeuge für Laserstrahl-Wellenfrontdetektion, adaptive Optik, ebene Oberflächenmessung, optische Systemkalibrierung, optische Fenstererkennung, optische sphärische Oberflächenmessung, Oberflächenrauheitserkennung, Oberfläche Mikrokontur usw.
FIS4-UHR ultra-high resolutionVierwellen-Interferometersensornutzt die patentierte, zufallscodierte Vierwellen-Beugungstechnologie, um eine Einkanal-Wellenfront-Selbstinterferenz zu erreichen, und Interferenzen treten an der Position der hinteren Bildebene auf. Es stellt geringe Anforderungen an die Kohärenz der Lichtquelle und erfordert keine Phasenverschiebung. Gewöhnliche Bildgebungssysteme können eine Interferenzmessung durchführen. Es verfügt über eine extrem hohe Vibrationsfestigkeit und eine extrem hohe Stabilität und kann Präzisionsmessungen im nm-Bereich ohne Vibrationsisolierung erreichen. Im Vergleich zum Mikrolinsen-Array-Hartmann-Sensor verfügt er über mehr Phasenpunkte, einen größeren adaptiven Bandbereich, einen größeren Dynamikbereich und einen niedrigeren Preis.
Hauptmerkmale
◆ Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten
◆ Einpfad-Lichtselbstinterferenz, kein Referenzlicht erforderlich
◆ Breites Spektrum im 400-nm-1100-nm-Band
◆ 2 nm RMS hohe Phasenauflösung
◆ Extrem hohe Vibrationsfestigkeit, keine optische Vibrationsisolierung erforderlich
◆ Einfacher und schneller optischer Pfadaufbau wie bei der Bildgebung
◆ Unterstützt kollimierten Strahl, großen NA-Konvergenzstrahl
Produktanwendung
Laserstrahl-Wellenfronterkennung, adaptive Optik, ebene Oberflächenmessung, optische Systemkalibrierung, optische Fenstererkennung, optische Ebene, sphärische Oberflächenmessung, Oberflächenrauheitserkennung.