Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten
  • AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische KomponentenAOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

Mit dem Aufkommen der künstlichen Intelligenz und der dringenden weltweiten Nachfrage nach Automatisierungs-Upgrades wurde der AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten entwickelt, um den vielfältigen Automatisierungsanforderungen der Kunden gerecht zu werden. Dieses Gerät ist in der Lage, optische Komponenten und optische Fensterscheiben automatisch, schnell und hochpräzise zu erkennen und löst so effektiv die Probleme der geringen Effizienz und mangelnden Genauigkeit, die mit der manuellen Sichtprüfung verbunden sind. Es eignet sich zur Qualitätskontrolle von Oberflächenfehlern auf Mobiltelefonbildschirmen und Displays. Bei Fragen und Problemen können Sie uns jederzeit eine E-Mail senden. Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.

Der Oberflächendefektdetektor AOI450 für optische Komponenten ist in der Lage, optische Komponenten und optische Fensterscheiben zu prüfen. Es verfügt über eine Erkennungsauflösung von bis zu 0,5 Mikrometern und eine maximale Inspektionsöffnung von 450 mm x 450 mm. Das Gerät kann automatisch Berichte ausgeben, deren Formate dem US-Militärstandard MIL-PRF-13830A/B und dem internationalen Standard ISO10110-7 entsprechen.

 

Artikelspezifikation:


Produktname

AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

Maximale Erkennungsgröße

450mmX450mm

Erkennungsauflösung

0,5 μm

Erkennungsmethode

Dunkelfeld-Array-Scanning-Bildgebung

Ausgabeberichte

Nationale Standards, US-Militärstandards und maßgeschneiderte Unternehmensberichte.

 

Merkmale des BOJIONG AOI450 Oberflächendefektdetektors für optische Komponenten



Der AOI450-Oberflächenfehlerdetektor für optische Komponenten nutzt Bildverarbeitungstechnologie, um eine automatisierte, schnelle und hochpräzise Erkennung von Oberflächenfehlern an optischen Komponenten und optischen Fensterscheiben zu erreichen und so die Probleme der geringen Effizienz und mangelnden Genauigkeit bei der visuellen Inspektion effektiv anzugehen. Die höchste Erkennungsauflösung kann 0,5 Mikrometer erreichen und die maximale Erkennungsöffnung kann bis zu 450 mm x 450 mm betragen. Die verwendete Bildgebungstechnologie umfasst ringförmige Beleuchtung und Mikrostreu-Dunkelfeld-Bildgebung. Das Gerät ist in der Lage, automatisch Berichte zu erstellen, deren Formate dem US-Militärstandard MIL-PRF-13830A/B und dem internationalen Standard ISO 10110-7 entsprechen.


Anwendungsbereiche des AOI450 für den Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten




Geeignet für die Qualitätskontrolle von Oberflächenfehlern in optischen Komponenten, optischen Fensterwafern, Siliziumwafern, Saphirwafern usw.

Polierfehler: Kratzer, Vertiefungen, Absplitterungen, Blasen, Schmutz usw.

Dieses Gerät kann die folgenden Arten von Fehlern bewältigen:

Beschichtungsfehler: Delaminierung, Beschädigung der Beschichtung usw.



◆ Mehrstrahlige ringförmige Beleuchtung

◆ Bildgebung mit variabler Vergrößerung und Optionen für hohe und niedrige Vergrößerung

◆ Erkennungsgenauigkeit von 0,5 μm

◆ Erkennung von Multi-Wafern auf der gesamten Platte

◆ Linearmotor für schnelle Bildgebung

◆ Ausgestattet mit einer FFU (Fan Filter Unit), um die interne Sauberkeit sicherzustellen

Mehrstrahlige ringförmige Bildbeleuchtung



Automatisches Zoommikroskop von 1X bis 8X.


Einstellbare Schnellspannung für die gesamte Platte.


Hochpräzise 2D-Linearmotoren sorgen für die Genauigkeit schneller Aufnahmen.


AOI Intelligente Inspektionssoftware




Tabellenausgabe nach Militärstandard


Anzeige der Testergebnisse




Kratzer auf der Beschichtungsoberfläche.

 

Kratzer

 

Laserschadenstelle 1

Laserschadenstelle 2

 

Nanoskaliger Partikelpunkt

 

Faser

 

Komponentenzerfließen

 

Beschädigung der Membranschicht


AOI450 Parameter zur Erkennung von Oberflächendefekten optischer Komponenten

 

AOI450 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

Artikel

Beschreibung

Modell

AOI450

Gerätefunktion

Quantitative Defekterkennung für planare optische Komponenten mit ultraglatter Oberfläche und Ausgabe elektronischer Berichte gemäß den Erkennungsergebnissen wie US-Militärstandard, Nationalstandard und Internationalstandard.

Maximale Erkennungsgröße

450mmX450mm

Erkennungspräzision

Geringe Vergrößerung 5 μm, hohe Vergrößerung 0,5 μm

Spannmethode

Klemmung ganzer Platten oder einzelner Teile, Unterstützung der Klemmung von quadratischen und runden Teilen.

Nivelliermethode

Vollständiges Plattenmaterial unterstützt automatische Fokussierung, elektrische Nivellierung.

Bildgebende Methode

Ringförmige Beleuchtung, Mikrostreu-Dunkelfeld-Bildgebung, gemäß der „Quantitative Detection Method for Surface Defects of Optical Components – Micro-Scatter Dark Field Imaging Method“, beschrieben in der nationalen Norm GB/T 41805-2022.

Erkennungsmethode

Scan-Stitching mit geringer Vergrößerung, Positionierungsquantifizierung mit hoher Vergrößerung.

Scanmechanismus

2D-Linearmotor, Hub 150 mm × 150 mm.

Kameraparameter

Große Zielkamera, 5 Millionen Pixel.

Berichtsformat

Excel-, Word-Format, US-Militärstandard, nationaler Standard, internationaler Standard oder statistischer Unternehmensbericht.

Industrie-PC-Konfig

i7-Prozessor, 32 GB Speicher, 1T-Festplatte, 6 GB Videospeicher.

Geräteabmessungen

900 mm × 800 mm × 2000 mm (L × B × H)

Stromversorgungsspannung

220 V ± 10 %

 

 

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