Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
Produkte
AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten
  • AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische KomponentenAOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

Als Reaktion auf den Bedarf an automatisierter Inspektion von Bauteilen mit großem Durchmesser hat BOJIONG den AOI1000 Optical Component Surface Defect Detector eingeführt, um den vielfältigen Automatisierungsanforderungen der Kunden gerecht zu werden. Dieses Gerät ist in der Lage, Silizium-Wafer und Saphir-Wafer automatisch, schnell und hochpräzise zu erkennen und löst so effektiv die Probleme der geringen Effizienz und Genauigkeit, die mit der manuellen visuellen Inspektion einhergehen. Es eignet sich zur Qualitätskontrolle von Oberflächenfehlern auf Mobiltelefonbildschirmen und Displays. Bei Fragen und Problemen können Sie uns jederzeit per E-Mail kontaktieren. Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.

Für große Testkomponenten wie Siliziumwafer und Saphirwafer bietet der AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten eine Erkennungsauflösung von bis zu 0,5 Mikrometern und eine maximale Inspektionsöffnung von 1000 mm x 600 mm. Das Gerät ist in der Lage, automatisch Berichte zu erstellen, mit Berichtsformaten wie dem US-Militärstandard MIL-PRF-13830A/B und dem internationalen Standard ISO 10110-7.

 

Artikelspezifikation:


Produktname

AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten

Maximale Erkennungsgröße

1000mmX600mm

Erkennungsauflösung

0,5 μm

Erkennungsmethode

Dunkelfeld-Array-Scanning-Bildgebung

Ausgabeberichte

Nationale Standards, US-Militärstandards und maßgeschneiderte Unternehmensberichte.

 

Merkmale des BOJIONG AOI1000 Oberflächendefektdetektors für optische Komponenten



Der AOI1000-Oberflächenfehlerdetektor für optische Komponenten nutzt Bildverarbeitungstechnologie, um eine automatisierte, schnelle und hochpräzise Erkennung von Oberflächenfehlern auf Komponenten wie Siliziumwafern und Saphirwafern zu erreichen und so die Probleme der geringen Effizienz und mangelnden Genauigkeit bei der visuellen Inspektion effektiv anzugehen . Die höchste Erkennungsauflösung kann 0,5 Mikrometer erreichen und die maximale Erkennungsöffnung kann bis zu 1000 mm x 600 mm betragen. Die Bildgebungstechnologie umfasst ringförmige Beleuchtung und Mikrostreu-Dunkelfeld-Bildgebung. Das Gerät ist in der Lage, automatisch Berichte in verschiedenen Formaten zu erstellen, darunter dem US-Militärstandard MIL-PRF-13830A/B und dem internationalen Standard ISO 10110-7.


Anwendungsgebiete des AOI1000 für den Oberflächendefektdetektor optischer Komponenten




Geeignet für die Qualitätskontrolle von Oberflächenfehlern in optischen Komponenten, optischen Fensterwafern, Siliziumwafern, Saphirwafern usw.

Beschichtungsfehler: Delaminierung, Beschädigung der Beschichtung usw.

Polierfehler: Kratzer, Vertiefungen, Absplitterungen, Blasen, Schmutz usw.

Dieses Gerät kann die folgenden Arten von Fehlern bewältigen:


◆ Mehrstrahlige ringförmige Beleuchtung

◆ Bildgebung mit variabler Vergrößerung und Optionen für hohe und niedrige Vergrößerung

◆ Erkennungsgenauigkeit von 0,5 μm

◆ Erkennung von Multi-Wafern auf der gesamten Platte

◆ Linearmotor für schnelle Bildgebung

◆ Ausgestattet mit einer FFU (Fan Filter Unit), um die interne Sauberkeit sicherzustellen


Mehrstrahlige ringförmige Bildbeleuchtung



Automatisches Zoommikroskop von 1X bis 8X.


Einstellbare Schnellspannung für die gesamte Platte.


Hochpräzise 2D-Linearmotoren sorgen für die Genauigkeit schneller Aufnahmen.


AOI Intelligente Inspektionssoftware




Tabellenausgabe nach Militärstandard


Anzeige der Testergebnisse


Kratzer auf der Beschichtungsoberfläche.

 

Kratzer

 

Laserschadenstelle 1

Laserschadenstelle 2

 

Nanoskaliger Partikelpunkt

 

Faser

 

Komponentenzerfließen

 

Beschädigung der Membranschicht


Parameter des AOI1000-Oberflächendefektdetektors für optische Komponenten

 

AOI450 Detektor für Oberflächenfehler optischer Komponenten. AOI1000 Detektor für Oberflächenfehler optischer Komponenten

Artikel

Beschreibung

Modell

AOI1000

Gerätefunktion

Quantitative Defekterkennung für planare optische Komponenten mit ultraglatter Oberfläche und Ausgabe elektronischer Berichte gemäß den Erkennungsergebnissen wie US-Militärstandard, Nationalstandard und Internationalstandard.

Maximale Erkennungsgröße

1000mmX600mm

Erkennungspräzision

Geringe Vergrößerung 5 μm, hohe Vergrößerung 0,5 μm

Spannmethode

Klemmung ganzer Platten oder einzelner Teile, Unterstützung der Klemmung von quadratischen und runden Teilen.

Nivelliermethode

Vollständiges Plattenmaterial unterstützt automatische Fokussierung, elektrische Nivellierung.

Bildgebende Methode

Ringförmige Beleuchtung, Mikrostreu-Dunkelfeld-Bildgebung, gemäß der „Quantitative Detection Method for Surface Defects of Optical Components – Micro-Scatter Dark Field Imaging Method“, beschrieben in der nationalen Norm GB/T 41805-2022.

Erkennungsmethode

Scan-Stitching mit geringer Vergrößerung, Positionierungsquantifizierung mit hoher Vergrößerung.

Scanmechanismus

2D-Linearmotor, Hub 150 mm × 150 mm.

Kameraparameter

Große Zielkamera, 5 Millionen Pixel.

Berichtsformat

Excel-, Word-Format, US-Militärstandard, nationaler Standard, internationaler Standard oder statistischer Unternehmensbericht.

Industrie-PC-Konfig

i7-Prozessor, 32 GB Speicher, 1T-Festplatte, 6 GB Videospeicher.

Geräteabmessungen

900 mm × 800 mm × 2000 mm (L × B × H)

Stromversorgungsspannung

220 V ± 10 %

 

 

Hot-Tags: AOI1000 Oberflächendefektdetektor für optische Komponenten, China, Hersteller, Lieferant, Qualität, Fabrik, Preis, Fortgeschritten, Neueste
Anfrage absenden
Kontaktinformation
Für Anfragen zum interferometrischen Sensor, Wellenfrontanalysator, Wellenfrontsensor oder zur Preisliste hinterlassen Sie uns bitte Ihre E-Mail und wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden.
X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept