FLS4 hochauflösender Wellenfrontsensor 400-1100 nm

FIS4 hochauflösender Wellenfrontsensor 400-1100 nm

Der BojiongFIS4 HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 nmFeatures 300x300 hochauflösende Phase-Detektionspunkte und einen Hochleistungs-Rechenkern (mit Messgenauigkeit bis zu 2nm RMS), wobei Echtzeit-Wellenfrontdaten bei einer vollständigen Auflösung von 10 Bildern pro Sekunde bereitgestellt werden. Sein revolutionäres Common-Path-Interferometrie-Design sorgt selbst in Hochvibrationsumgebungen, ohne dass eine Vibrationsisolation erforderlich ist. Sein im Inland entwickelter zufällig codierter Gitter- und leistungsstarker Rekonstruktionsalgorithmus gewährleistet eine hervorragende Interferenzresistenz, eine präzise Messleistung und eine breite industrielle Anwendbarkeit.

BojiongFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 Nm Einführung

Der BojiongFIS4 hochauflösender Wellenfrontsensor 400-1100 nmist das neueste optische Inspektionsprodukt unseres Unternehmens unseres Unternehmens. Es entspricht den Zertifizierungsstandards der ISO 9001 und des China National Institute of Metrology (NIM) und verfügt über eine einjährige Garantie. DerFIS4-HR-W-WellenfrontsensorVerwendet die Interferometrie der Common-Path-Interferometrie und einen Echtzeit-Wellenfront-Rekonstruktionalgorithmus, wodurch die Notwendigkeit einer Phasenverschiebung beseitigt und außergewöhnlichen Schwingungswiderstand anbietet. Es wurde entwickelt, um die strengsten wissenschaftlichen Forschungs- und industriellen Inspektionsanforderungen zu erfüllen, und bietet Plug-and-Play-Betrieb und einfache Wartung.

BojiongFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 Nm Parameter (Spezifikation)

BojiongFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 Nm Funktion und Anwendung

 Seit 2006 hat das Team von Professor Yang Yongying an der Zhejiang University das Weitspektrum gestartetWellenfrontsensoren der FIS4 -SerieNach 17 Jahren Forschung und Entwicklung unter Verwendung von Common-Pfad-Design- und Echtzeit-Wellenfront-Rekonstruktionalgorithmen.

· Echtzeiterkennung von Wellenfrontdaten sind möglich, ohne dass eine Vibration erforderlich ist

Isolationsplattform.

· Empfindlichkeit kann 2nm RMS erreichen.

· Ein einzelnes optisches Pfaddesign beseitigt das Bedürfnis nach Referenzleuchten und ermöglicht den Plug-and-Play-Betrieb.

· Größe ist nur die Größe einer Faust.

DasFIS4 hochauflösender Wellenfrontsensor 400-1100 nmist für bequeme Interferometrie in Industrie, wissenschaftlicher Forschung und nationaler Verteidigung ausgelegt. With a high resolution of 300×300 (90,000) phase points, a wide spectral response from 400 to 1100 nm, and 10 frames of real-time 3D display at full resolution, it provides an ideal wavefront sensing measurement tool for applications such as beam wavefront measurement, adaptive optics, optical system calibration, optical window inspection, optical flat and spherical surface shape measurement, surface roughness, and surface Mikroprofilinspektion.

BojiongFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 Nm Anwendung

BojiongFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor 400-1100 Nm  Details

DerFIS4 hochauflösender Wellenfrontsensor 400-1100 nmVerwendet die patentierte zufällige vierwellige Beugungstechnologie, um die Selbstinterferenz einer einzelnen gemessenen Wellenfront zu erreichen, wodurch Störungen in der hinteren Bildebene erzeugt werden. Es erfordert minimale Lichtquellenkohärenz und eliminiert die Notwendigkeit einer Phasenverschiebung, wodurch interferometrische Messungen mithilfe von Standardbildgebungssystemen ermöglicht werden. DerFIS4-HR-W-Wellenfrontsensor Bietet außergewöhnliche Schwingungsbeständigkeit und -stabilität und erreicht die Genauigkeit von Nanometer-Ebene, ohne dass eine Vibrationsisolation erforderlich ist. Im Vergleich zu Microlens-Array-Hartmann-Sensoren verfügt es über mehr auflösende Phasenpunkte, einen breiteren Wellenlängenbereich, einen größeren Dynamikbereich und ein überlegenes Preis-Leistungs-Verhältnis.

Abb.1.Phase Bildgebungsprinzip basierend auf einer lateralen Scher-Interferenz mit vier Wellen unter Verwendung von zufällig codiertem Hybrid-Gitter (REHG)

Abb.2.Te-Square-Wellenfront-Rekonstruktion aus Vierwellen-Lateral-Scher-Interferogramm

DerFIS4 -WellenfrontsensorAufgrund seiner einzigartigen Vorteile wie Kompaktheit, Robustheit, hoher zeitlicher Auflösung und Kompatibilität mit vorhandenen Mikroskopiesystemen ist es zu einem leistungsstarken und vielseitigen Instrument mit einer Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Industrie geworden. Zunächst für die traditionelle optische Inspektion des Werkzeugs, einschließlich optischer Komponententests, Laserstrahlbewertung und adaptive Optik, wurden seitdem um die biomedizinische Bildgebung, die Positionierung von Nanopartikeln, die Charakterisierung von Metasurface und die Charakterisierung von Temperaturgradienten erweitert.

DerFIS4 Wavefront -SensorDas kompakte Design erleichtert es einfach, in vorhandene Mikroskopiesysteme integriert zu werden, während seine Robustheit auch in der Fähigkeit demonstriert, eine präzise interferometrische Empfindlichkeit selbst in Hochvibrationsumgebungen aufrechtzuerhalten. Darüber hinaus kann der FIS4-Wellenfrontsensor einzelne Schussmessungen in der Lage sein, die Erfassung schneller dynamischer Prozesse zu ermöglichen. In der biomedizinischen Forschung dieFIS4 -Wellenfrontsensorwurde zur markierungsfreien, hochauflösenden, Echtzeitbildgebung einer Vielzahl lebender Zellen wie COS-7, HT1080-Zellen, RPE-Zellen, CHO-Zellen, HEK-Zellen und Neuronen verwendet.

DerFIS4 -Wellenfrontsensorwurde auch für die Phasenverzögerungsbildgebung verwendet und bietet einen starken Kontrast für die Visualisierung anisotropen Gewebe- und subzellulären Strukturen wie Kollagenfasern und das Zytoskelett. Diese Technologie wurde auch auf die Phasenbildgebung in den Regionen Röntgen-, Mittelwellenlängen-Infrarot (MWIR) und Langwellenlängeninfrarot (LWIR) ausgeweitet, was ihr Potenzial für interdisziplinäre Anwendungen weiter demonstriert. Darüber hinaus jüngste Forschungsergebnisse mit derFIS4 -Wellenfrontsensorhat die Wellenfront-Sensing-Technologie ausgiebig auf die Charakterisierung von Metasurfaces und zweidimensionalen Materialien angewendet, wodurch deren vielfältigen Verwendungen und potenziellen Wert in der Optik- und Materialwissenschaft demonstriert werden.