Der hochauflösende interferometrische Vierwellensensor ist ein hocheffizientes interferometrisches Messwerkzeug, das speziell auf industrielle Anwendungen, wissenschaftliche Forschung und den nationalen Verteidigungssektor zugeschnitten ist.
Mit seiner herausragenden Leistung bietet dieser Sensor eine hohe Auflösung von 300×300 (90.000) Phasenpunkten und einen breiten spektralen Reaktionsbereich von 400–1100 nm und gewährleistet so Präzision und Zuverlässigkeit in verschiedenen optischen Messszenarien.
Zu seinen einzigartigen technischen Merkmalen gehört die Verwendung der patentierten zufallscodierten Vierwellen-Beugungstechnologie, die es dem Sensor ermöglicht, eine Selbstinterferenz in einer einzelnen gemessenen Wellenfront zu erreichen und Interferenzen an der Position der hinteren Bildebene zu erzeugen, ohne dass eine komplexe Phasenverschiebung erforderlich ist Techniken.
Darüber hinaus ist der Sensor von BOJIONG in der Lage, 3D-Ergebnisse in voller Auflösung mit 10 Bildern pro Sekunde in Echtzeit anzuzeigen und eignet sich für die Laserstrahl-Wellenfronterkennung, adaptive optische Systeme, die Kalibrierung optischer Systeme, die Inspektion optischer Fenster sowie Messungen der optischen Ebene und Kugelformen, einschließlich Oberflächenrauheit und Mikroprofilerkennung.
Mit seiner einfachen Bedienung, extrem hohen Vibrationsfestigkeit und Stabilität bietet dieser Sensor von BOJIONG eine ideale Lösung zur Messung von Wellenfronten, die Präzisionsmessungen im Nanometerbereich ohne die Notwendigkeit einer Vibrationsisolierung ermöglicht und so die Messeffizienz und -genauigkeit erheblich verbessert.
Wellenlängenbereich |
400 nm ~ 1100 nm |
Zielgröße |
7,07 mm × 7,07 mm |
Räumliche Auflösung |
23,6μm |
Bildpixel |
2048×2048 |
Auflösung der Phasenausgabe |
300×300 (90000 Pixel) |
Phasenauflösung |
<2nmRMS |
Absolute Genauigkeit |
10 nmRMS |
Dynamikbereich |
110 μm (150 lm) |
Abtastrate |
24fps |
Verarbeitungsgeschwindigkeit in Echtzeit |
10 Hz (bei voller Auflösung) |
Oberflächentyp |
HACKEN |
Abmessungen |
56,5 mm × 43 mm × 41,5 mm |
Gewicht |
ca. 120g |
◆Erzielen Sie einen einfachen und schnellen Aufbau des Interferenzlichtpfads
◆Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-konvergierte Strahlen
◆Hohe Auflösung von 300×300 (90000) Phasenpunkten
◆Einkanalige Lichtselbstinterferenz, kein Referenzspiegel erforderlich
◆Breites Spektrum im 400-nm-1100-nm-Band
◆2 nm RMS hohe Phasenauflösung
◆Ultrahohe Vibrationsfestigkeit, keine optische Vibrationsisolierung erforderlich
Dieser hochauflösende Vierwellen-Interferometriesensor von BOJIONG wird zur Laserstrahl-Wellenfronterkennung, adaptiven Optik, Oberflächenformmessung, optischen Systemkalibrierung, optischen Fenstererkennung, optischen Ebene, sphärischen Oberflächenformmessung und Oberflächenrauheitserkennung verwendet
Laserstrahl-Wellenfronterkennung |
Optische Messung der planaren Oberflächenform |
Optische Messung der sphärischen Oberflächenform |
Aberrationsmessung optischer Systeme |
Optische Fensterteilerkennung |
Messung der Gitterverteilung im Material |
Adaptive Optik – Wellenfronterkennungsreaktion im Zernike-Modus |
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Der hochauflösende Vierwellen-Interferometersensor von BOJIONG wurde von einem Team von Professoren der Zhejiang-Universität und der Nanyang Technological University in Singapur mit inländischer patentierter Technologie entwickelt und kombiniert Beugung und Interferenz, um eine gemeinsame Vierwellen-Transversalscherinterferenz mit überlegener Erkennungsempfindlichkeit zu erzielen Antivibrationsleistung und kann Echtzeit- und Hochgeschwindigkeits-Dynamikinterferometrie ohne Vibrationsisolierung realisieren. Die Echtzeitmessung zeigt eine Bildrate von mehr als 10 Bildern.
Gleichzeitig verfügt der FIS4-Sensor über eine ultrahohe Phasenauflösung von 512 x 512 (260.000 Phasenpunkte), das Messband deckt 200 nm bis 15 μm ab, die Messempfindlichkeit erreicht 2 nm und die Messwiederholgenauigkeit ist besser als 1/1000 λ ( RMS). Es kann zur Analyse der Laserstrahlqualität, zur Erkennung von Plasmaströmungsfeldern, zur Echtzeitmessung der Verteilung von Hochgeschwindigkeitsströmungsfeldern, zur Bewertung der Bildqualität optischer Systeme, zur mikroskopischen Profilmessung und zur quantitativen Phasenbildgebung biologischer Zellen verwendet werden.
FIS4 Technische Parameter jeder Produktserie |
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Produkt |
FIS4-UV |
FIS4-HR |
FIS4-UHR |
FIS4-HS |
FIS4-Zelle |
FIS4-NIR |
Wellenlängenbereich |
200–450 nm |
400–1100 nm |
400–1100 nm |
400–1100 nm |
400–1100 nm |
900–1200 nm |
Zielgröße mm² |
13,3×13,3 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
10,24×10,24 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
Räumliche Auflösung |
26μm |
23,6μm |
26μm |
24,4 μm |
23,6μm |
26μm |
Bildpixel |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
Auflösung der Phasenausgabe |
512×512 (262144 Pixel) |
300×300 (90000 Pixel) |
512×512 (262144 Pixel) |
420×420 (176400 Pixel) |
300×300 (90000 Pixel) |
512×512 (262144 Pixel) |
Phasenauflösung |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
Absolute Genauigkeit |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15 nmRMS |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15 nmRMS |
Dynamikbereich |
90μm (256 Min.) |
110 μm (150 Min.) |
162μm (256 Min.) |
132μm (210 Min.) |
110 μm (150 Min.) |
270μm (256 Min.) |
Abtastrate |
32fps |
24fps |
45fps |
107fps |
24fps |
45fps |
Verarbeitungsgeschwindigkeit in Echtzeit |
10Hz (Komplettlösung) |
10Hz (Komplettlösung) |
10Hz (Komplettlösung) |
10Hz (Volle Auflösung) Unterstützt verzögerte Stapelverarbeitung |
10Hz (Komplettlösung) |
10Hz (Komplettlösung) |
Oberflächentyp |
USB3.0 |
HACKEN |
USB3.0 |
HACKEN |
HACKEN |
USB3.0 |
Externe Schnittstelle |
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- |
- |
- |
C-Anschluss |
- |
Größe mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
Gewicht |
ca. 240g |
ca. 120g |
ca. 240g |
ca. 120g |
ca. 120g |
ca. 240g |
Adresse
Nr. 578 Yingkou Road, Bezirk Yangpu, Shanghai, China
Tel