Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometrischer Sensor
  • Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometrischer SensorNahinfrarot-Vierwellen-Interferometrischer Sensor

Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometrischer Sensor

BOJIONG Optoelectronics, ein Vorreiter in der Branche, setzt sich unermüdlich für Innovationen in der Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometrie-Sensortechnologie ein und bietet hochmoderne Sensoren für verschiedene Branchen wie optische Fertigung, Luft- und Raumfahrt, biomedizinische Forschung und Energieforschung. Diese Sensoren wurden entwickelt, um die strengen Anforderungen hochpräziser optischer Analysen zu erfüllen. Sie ermöglichen Kunden eine beispiellose Präzision bei der optischen Leistungsmessung und steigern die Produktqualität und Fertigungseffizienz.

Die hohe Auflösung und der große Wellenlängenbereich des BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensors machen ihn zur idealen Wahl für wissenschaftliche Forschung und industrielle Anwendungen, insbesondere in Situationen, die präzise Messungen und Analysen erfordern. Der Sensor ist in der Lage, hochpräzise Wellenfrontmessungen im Wellenlängenbereich von 900 nm bis 1200 nm mit einer Auflösung von 512 x 512 Pixeln (insgesamt 262.144 Phasenpunkte) durchzuführen. Sein Design berücksichtigt die Anforderungen an Vibrationsdämpfung und Stabilität in praktischen Anwendungen und ermöglicht hochpräzise Messungen ohne die Notwendigkeit einer komplexen Umgebungskontrolle. Dies vereinfacht den Bedienungsprozess erheblich und verbessert die Messeffizienz.


Artikelspezifikation

 

Produktname

Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometrischer Sensor

Wellenlängenbereich

900 nm ~ 1200 nm

Zielgröße

12mm×12mm

Räumliche Auflösung

23,4 μm

Abtastauflösung

512×512 (262144 Pixel)

Phasenauflösung

<2nmRMS

Absolute Genauigkeit

15 nmRMS

Dynamikbereich

270 μm (256 Min.)

Abtastrate

32fps

Verarbeitungsgeschwindigkeit in Echtzeit

7 Hz (volle Auflösung)

Schnittstellentyp

USB3.0

Dimension

70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm

Gewicht

ca. 240g

 

Merkmal des BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensors

 

 

 

◆Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten

◆Breites Spektrum im 900-nm-1200-nm-Band

◆Einkanalige Lichtselbstinterferenz, kein Referenzlicht erforderlich

◆2 nm RMS hohe Phasenauflösung

◆Großer Dynamikbereich bis zu 270 μm

◆Genau wie bei der Bildgebung, einfacher und schneller Aufbau des optischen Pfades

◆Extrem starke Antivibrationsleistung, keine Notwendigkeit einer optischen Vibrationsisolierung

◆Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-konvergierte Strahlen


Anwendung des BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensors

 

Dieser BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensor wird zur Aberrationsmessung optischer Systeme, zur Kalibrierung optischer Systeme, zur Messung der internen Gitterverteilung von Materialien, zur Messung von Hyperoberflächen und Hyperlinsenwellenfronten verwendet



Beispiel für die Aberrationsmessung eines optischen Systems

Probenmessung der Gitterverteilung innerhalb eines Materials

Beispiele für Kalibrierungsmessungen optischer Systeme

Beispiel einer Metaoberflächen-Wellenfrontmessung

 

Beispiel einer Hyperlinsen-Wellenfrontmessung

 

 


 

Details zum hochauflösenden Vierwellen-Interferometriesensor

 

Der hochauflösende Vierwellen-Interferometersensor von BOJIONG wurde von einem Team von Professoren der Zhejiang-Universität und der Nanyang Technological University in Singapur mit inländischer patentierter Technologie entwickelt und kombiniert Beugung und Interferenz, um eine gemeinsame Vierwellen-Transversalscherinterferenz mit überlegener Erkennungsempfindlichkeit zu erzielen Antivibrationsleistung und kann Echtzeit- und Hochgeschwindigkeits-Dynamikinterferometrie ohne Vibrationsisolierung realisieren. Die Echtzeitmessung zeigt eine Bildrate von mehr als 10 Bildern.

Gleichzeitig verfügt der FIS4-Sensor über eine ultrahohe Phasenauflösung von 512 x 512 (260.000 Phasenpunkte), das Messband deckt 200 nm bis 15 μm ab, die Messempfindlichkeit erreicht 2 nm und die Messwiederholgenauigkeit ist besser als 1/1000 λ ( RMS). Es kann zur Analyse der Laserstrahlqualität, zur Erkennung von Plasmaströmungsfeldern, zur Echtzeitmessung der Verteilung von Hochgeschwindigkeitsströmungsfeldern, zur Bewertung der Bildqualität optischer Systeme, zur mikroskopischen Profilmessung und zur quantitativen Phasenbildgebung biologischer Zellen verwendet werden.

 

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