NIR Kostengünstiger Wellenfrontsensor

Der kostengünstige Wellenfrontsensor BOJIONG NIR integriert die patentierte zufällig codierte Vierwellenbeugungstechnologie mit einer Infrarotkamera und ermöglicht so eine Interferenz an der Position der hinteren Bildebene. Dieser Aufbau ermöglicht es Standard-Bildgebungssystemen, Interferenzmessungen mit außergewöhnlicher Vibrationsfestigkeit und Stabilität durchzuführen und dabei eine Präzision im Nanometerbereich zu erreichen, ohne dass eine Vibrationsisolierung erforderlich ist. Der Sensor verlangt von der Lichtquelle eine minimale Kohärenz und macht eine Phasenverschiebung überflüssig.

Artikelspezifikation

Merkmal des BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensors

◆Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten

◆Breites Spektrum im 900-nm-1200-nm-Band

◆Einkanalige Lichtselbstinterferenz, kein Referenzlicht erforderlich

◆2 nm RMS hohe Phasenauflösung

◆Großer Dynamikbereich bis zu 270 μm

◆Genau wie bei der Bildgebung, einfacher und schneller Aufbau des optischen Pfades

◆Extrem starke Antivibrationsleistung, keine Notwendigkeit einer optischen Vibrationsisolierung

◆Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-konvergierte Strahlen

Anwendung des BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensors

Dieser BOJIONG Nahinfrarot-Vierwellen-Interferometriesensor wird zur Aberrationsmessung optischer Systeme, zur Kalibrierung optischer Systeme, zur Messung der internen Gitterverteilung von Materialien, zur Messung von Hyperoberflächen und Hyperlinsenwellenfronten verwendet

Details zum hochauflösenden Vierwellen-Interferometriesensor

Der kostengünstige Wellenfrontsensor BOJIONG NIR, ein Produkt der Zusammenarbeit zwischen Professoren der Zhejiang-Universität und der Nanyang Technological University in Singapur, beinhaltet inländische patentierte Technologie, die Beugung und Interferenz vereint, um eine standardmäßige Vierwellen-Transversalscherinterferenz zu erreichen. Dieser Sensor zeichnet sich durch Erkennungsempfindlichkeit und Antivibrationsfunktionen aus und ermöglicht dynamische Hochgeschwindigkeitsinterferometrie in Echtzeit ohne die Notwendigkeit einer Vibrationsisolierung mit einer Bildrate von mehr als 10 Bildern für Echtzeitmessungen.

Darüber hinaus deckt der FIS4-Sensor in diesem Aufbau einen Messbereich von 200 Nanometern bis 15 Mikrometern ab und verfügt über eine ultrahohe Phasenauflösung von 512×512 (260.000 Phasenpunkte), eine Messwiederholgenauigkeit von über 1/1000λ (RMS) und eine Empfindlichkeit von 2 Nanometern. Es ist vielseitig einsetzbar für Anwendungen wie Laserstrahl-Qualitätsanalyse, Plasma-Strömungsfelderkennung, Echtzeit-Hochgeschwindigkeits-Strömungsfeldverteilungsmessung, Bildqualitätsbewertung optischer Systeme, mikroskopische Profilmessung und quantitative Phasenbildgebung biologischer Zellen.