Nahinfrarot-Wellenfrontanalysator

Der Nahinfrarot-Wellenfrontanalysator, der die patentierte Technologie der zufällig codierten Vierwellenbeugung mit einer Infrarotkamera kombiniert, ermöglicht die Durchführung von Interferenzmessungen mit herkömmlichen Bildgebungssystemen. Es zeichnet sich durch eine außergewöhnlich hohe Vibrationsfestigkeit und Stabilität aus und ermöglicht Präzisionsmessungen im Nanometerbereich, ohne dass eine Vibrationsisolierung erforderlich ist. Es eignet sich zur Messung der inneren Gitterverteilung von Materialien sowie zur Wellenfrontmessung von Metaoberflächen und Hyperlinsen.

Artikelspezifikation:

Merkmal des BOJIONG Nahinfrarot-Wellenfrontanalysators

◆Breites Spektrum im 900-nm-1200-nm-Band

◆2 nm RMS hohe Phasenauflösung

◆Ultrahohe Auflösung von 512×512 (262144) Phasenpunkten

◆Einkanalige Lichtselbstinterferenz, kein Referenzlicht erforderlich

◆Großer Dynamikbereich bis zu 270 μm

◆Extrem starke Antivibrationsleistung, keine Notwendigkeit einer optischen Vibrationsisolierung

◆Genau wie bei der Bildgebung, einfacher und schneller Aufbau des optischen Pfades

◆Unterstützt kollimierte Strahlen und große NA-konvergierte Strahlen

Anwendung des BOJIONG Nahinfrarot-Wellenfrontanalysators

Dieser BOJIONG Nahinfrarot-Wellenfrontanalysator wird zur Messung der Aberration optischer Systeme, zur Kalibrierung optischer Systeme, zur Messung der internen Gitterverteilung von Materialien, zur Messung von Hyperoberflächen und Hyperlinsenwellenfronten verwendet

Details zum BOJIONG Nahinfrarot-Wellenfrontanalysator

BOJIONG Nahinfrarot-Wellenfrontanalysator wurde von einem Team von Professoren der Zhejiang-Universität und der Nanyang Technological University in Singapur entwickelt. Mit inländischer patentierter Technologie kombiniert er Beugung und Interferenz, um eine gemeinsame Vierwellen-Transversalscherinterferenz mit überlegener Erkennungsempfindlichkeit und Anti- Vibrationsleistung und kann dynamische Hochgeschwindigkeitsinterferometrie in Echtzeit ohne Vibrationsisolierung realisieren. Die Echtzeitmessung zeigt eine Bildrate von mehr als 10 Bildern. Gleichzeitig verfügt der FIS4-Sensor über eine ultrahohe Phasenauflösung von 512 x 512 (260.000 Phasenpunkte), das Messband deckt 200 nm bis 15 μm ab, die Messempfindlichkeit erreicht 2 nm und die Messwiederholgenauigkeit ist besser als 1/1000 λ ( RMS). Es kann zur Analyse der Laserstrahlqualität, zur Erkennung von Plasmaströmungsfeldern, zur Echtzeitmessung der Verteilung von Hochgeschwindigkeitsströmungsfeldern, zur Bewertung der Bildqualität optischer Systeme, zur mikroskopischen Profilmessung und zur quantitativen Phasenbildgebung biologischer Zellen verwendet werden.